設(shè)為首頁
加入收藏
聯(lián)系我們
產(chǎn)品名稱：Micro Pioneer XRF2000鍍層測厚儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品報價：
產(chǎn)品特點：Micro Pioneer XRF2000鍍層測厚儀應(yīng)用于檢測電子電鍍，五金電鍍，端子，LED支架，電子元器件等電鍍層厚度測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。
Micro Pioneer XRF2000鍍層測厚儀的詳細資料：
XRF2000鍍層測厚儀
應(yīng)用于檢測電子電鍍，五金電鍍，端子，LED支架，電子元器件等電鍍層厚度
測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。
XRF-2000金屬鍍層測厚儀
原產(chǎn)地：韓國
品牌：Micro pioneer 微先鋒
系列型號:
XRF-2020H,XRF-2020L,XRF-2020PCB
以下為韓國XRF-2000:X-RAY膜厚儀檢測范圍
Au 0.03-4um
Pd 0.03-4um
Ni 0.05-25um
Ni-P 0.05-25um
Sn 0.05-80um
Ag 0.03-30um
Cr 0.05-25um
Zn 0.05-25um
ZnNi 0.05-25um
SnCu 0.05-25um
XRF-2000設(shè)備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層
各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應(yīng)用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)
多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務(wù)時效
XRF-2000金屬鍍層測厚儀精度控制：
表層：±5%
第二層：±8%
第三層：±15%
XRF-2000金屬鍍層測厚儀 系列
測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
測量的厚度范圍為0.03微米～35微米。
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。
XRF2000
檢測電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.03-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,操作非常方便簡單
Micro Pioneer XRF2000鍍層測厚儀
| 如果你對Micro Pioneer XRF2000鍍層測厚儀感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
